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초전도체의 전자기적 성질자속으로 하여 단위 자속의 정수배로 양자화된다. 이렇게 투과된 자기 선속들은 전자기적 상호작용으로 벌집 모양의 규칙적인 배열을 이루며, 전자현미경이나 중성자 산란 실험으로 이러한 배열 모양을 관측할 수 있다. 한편 초전도체에 전류가 흐르게 되면 이 자속체(fluxoid)들이 로렌츠 힘을 받아 움직이므로 에너지...
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주사 전자현미경 SEM, 走査電子顯微鏡전자빔이 샘플(Sample)의 표면에 주사하면서 샘플과의 상호작용에 의해 발생된 2차 전자(Secondary Electron) 또는 후방 산란 전자(back scattered electron)를 이용해서 샘플의 표면을 관찰하는 현미경. 광학현미경에 비해 초점 심도가 2배 이상 깊고, 또한 광범위하게 초점을 맞출 수 있어 입체적인 상을 얻는 것이...
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전자 빔 묘화 electron beam lithography가지며, 그 위에 해상도가 약 0.2μm까지 있는 등의 이점이 있는데. 포토리소그래피 기술에 비해서, 단위시간에 묘화되는 매수가 적다. 또 입사전자가 기판에서 후방산란되어 레지스트로 되돌아가 노광(근접효과)하기 때문에, 근접한 패턴에서는 치수가 굵어지는 등의 패턴에 의한 영향을 받기 쉬운 결점도 있다. 그러나...
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여러 가지 광전자방출현상운동량보존법칙에 따르면 전자의 운동에너지는 입사광자의 에너지에 의존하는 반면, 입사광자의 파장에 있어 콤프턴 편이(Compton shift)는 광자의 에너지와 관계가 없다. 충돌 전후에 파장의 증가를 나타내는 입사광자와 산란된 광자 사이의 파장에 대한 콤프턴 편이는 다음 두 항의 곱으로 나타낸다. 즉 첫째 항은...
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